Fachgebiete und Schlagwörter
- Ingenieurwissenschaften
- Profile measurement
- Zero defect manufacturing
- optical laser inspection system
- in-process measurement
- micro metrology
11th International Symposium on Measurement Technology and Intelligent Instruments - ISMTII 2013
- Meier, N. (Präsentator*in)
Aktivität: Wissenschaftliche und künstlerische Veranstaltungen › Konferenzen › Forschung